вопрос

НАУЧНО- ПРОИЗВОДСТВЕННАЯ КОМПАНИЯ

"ЦЕНТР НАНОТЕХНОЛОГИЙ"

   ЭЛЛИПСОМЕТРЫ. ДИАГНОСТИКА И КОНТРОЛЬ ТОНКИХ ПЛЕНОК И СЛОЕВ

Домой     Эллипсометры     Контакты, поддержка, заказ     Работы и публикации     Эллипсометрия в технологиях, науке, производстве     Новости
"Эллипсометры. Диагностика и контроль тонких пленок и слоев"
   
   Новости    

Семинар СО РАН в формате круглого стола: «Научное приборостроение - возможности развития».

В Новосибирском Академгородке 25 апреля 2018 года на базе Института физики полупроводников имени А.В. Ржанова СО РАН при поддержке Нанотехнологического Обществ России и Сибирского Отделения РАН состоялся в формате круглого стола научный семинар по теме: «Научное приборостроение для нанотехнологий. Современное состояние. Возможности развития.» Целью семинара являлся анализ состояния современного научного приборостроения в России, а также обсуждение возможностей его развития в условиях технологического прорыва в стране.

Конференция «ФОТОНИКА-2017»

В сентябре 2017 г. в курортном районе Речкуновка г. Новосибирска состоялась Российская конференция по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых). Организаторами конференции являлись: Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Сибирское отделение РАН, ФАНО, РФФИ и др. Тематика конференции охватывала широкий круг вопросов физики квантовых эффектов, оптических и фотоэлектрических явлений, формирование наноструктур на основе широкого спектра полупроводниковых материалов и нанокристаллов, преобразование и взаимодействие оптического излучения. На конференции были представлены многочисленные доклады, отражающие новейшие направления развития отечественных фотоэлектронных технологий, связанные с регистрацией сверхслабых оптических сигналов в ультрафиолетовом, инфракрасном, терагерцовом и видимом диапазонах спектра, а также рассмотрено современное состояние фотоники в РФ и мировые тенденции и перспективы ее развития в целом. В работе конференции активное участие приняли сотрудники лаборатории эллипсометрии ИФП, ими был представлены следующие доклады:

  • «Новые подходы в эллипсометрии материалов и структур фотоники»
  • «Оптические свойства анодных оксидных слоев на AlxIn1-xAs»
  • «Структурные и оптические особенности пленок незамещенных и фторозамещенных фталоцианинов цинка(II)»
  • «Оптические свойства пленок TiO2, полученных электронно-лучевым осаждением»
  • «Метод эллипсометрического контроля лазерных структур, выращиваемых на основе соединения Hg1-xCdxTe»
  • «О возможностях контроля температуры CdTe в методе МЛЭ с помощью эллипсометра»
  • «Устройство управления поляризацией электромагнитного излучения в терагерцовом диапазоне частот»
  • «МЛЭ рост и характеризация лазерных структур с квантовыми ямами HgTe\CdHgTe для длинноволновой области спектра»

Конференция «НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ-2016»

В ноябре 2016 г. в г. Москве в здании Президиума РАН (Ленинский пр. 32) состоялась научно-практическая конференция «Научное приборостроение- современное состояние и перспективы развития».Организаторами конференции являлись: РАН, ФАНО, Совет по научному приборостроению при ФАНО и др. На конференции было рассмотрено современное состояние научного приборостроения, мировые тенденции и перспективы его развития в организациях, подведомственных ФАНО, их взаимодействие с ведомствами и организациями промышленности. Было констатировано, что в настоящее время работы в области научного приборостроения проводятся в недостаточном объеме, не более чем в 50 институтах, в т. ч. в Институте физики полупроводников им. А.В. Ржанова. Среди разработок в области микро- и нанотехнологий был отмечен высокий уровень разработки автоматических эллипсометров последнего поколения, которые эффективно способствуют возраждению микроэлектроники в РФ и переходу к наноэлектронике и нанофотонике. В работе конференции принял участие заведующий лабораторией эллипсометрии ИФП Рыхлицкий Сергей Владимирович, им был представлен доклад: «Эллипсометры – прецизионные средства контроля тонкопленочных технологий».

Скачать тезисы

КОНФЕРЕНЦИЯ «КРЕМНИЙ-2016»

С 12 по 15 сентября в Новосибирске прошла XI Конференция «Кремний-2016» Конференция «Кремний-2016» является продолжением серии научных конференций, посвященных кремнию. Свою историю она ведет с общероссийского совещания по кремнию, проведенного в МИСиС в 1999 году. С 2000 года параллельно с конференцией проводится Школа для молодых ученых и специалистов. В настоящее время конференция – это основной форум, где ученые, представляющие академическое сообщество, ВУЗы и промышленность России и стран зарубежья, обсуждают актуальные проблемы по всему кругу вопросов, включающему в себя получение металлургического и поликристаллического кремния, рост и материаловедение объемных кристаллов и тонких пленок кремния и родственных материалов, а также физику, технологию и диагностику наноструктур на их основе. На конференции старшим научным сотрудником лаборатории эллипсометрии Спесивцевым Евгением Васильевичем был представлен устный доклад «Эллипсометрическая диагностика кремния и тонкопленочных структур на его основе».

Скачать тезисы

Технопром-2015

В начале июня 2015 г. в Новосибирске успешно прошел международный форум технологического развития «ТЕХНОПРОМ-2015». Работа форума протекала под девизом «ЭНЕРГИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОРЫВА», отражающим глобальную экономическую повестку РФ, остро нуждающейся в настоящее время в быстром технологическом развитии в современных условиях. Форум был посвящен выявлению долгосрочных трендов промышленной и инновационной политики России- поиску новых полюсов технологического рывка. В рамках работы форума проводилась выставка новейшего отечественного технологического оборудования, на которой в виде большой экспозиции была представлена эллипсометрическая аппаратура ИФП СО РАН последнего поколения. Эллипсометры привлекли к себе внимание и вызвали широкий интерес многих технических специалистов электронной и оптической отраслей промышленности. Состоялась презентация технологического эллипсометрического метода контроля на базе современной автоматической эллипсометрической аппаратуры ИФП, где подробно были освещены достоинства такого метода контроля и приведены технические характеристики эллипсометров в сравнении с лучшими зарубежными аналогами. По результатам работы форума были подписаны многочисленные договоры о намерении приобретения эллипсометров ведущими промышленными предприятиями Санкт-Петербурга, Москвы, Н.Новгорода и др. городов страны.

Технопром
Проводится демонстрация эллипсометров на стенде ИФП СО РАН

© 2008-2018 гг. последнее обновление апрель 2018г. Aulchenko Nina