ЭЛЛИПСОМЕТРЫ
Прецизионная характеризация свойств тонких пленок и структур.
Мы разрабатываем и производим эллипсометры уже более 45 лет. За это время было продано более 600 штук приборов.
« Каждый может стать экспертом в области диагностики тонких пленок, используя наши эллипсометры…»
Спектральный эллипсометрический комплекс «ЭЛЛИПС-1991»
Комплекс «ЭЛЛИПС-1991» предназначен для прецизионных измерений толщин и оптических констант тонких пленок и сложных многослойных тонкопленочных структур на основе полупроводников, диэлектриков, металлов, полимеров в широком спектральном диапазоне. Рекомендуемая сфера использования: научные исследования, тонкопленочные нанотехнологии, контроль высокотехнологичной продукции.
Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-777
Эллисометр предназначен для прецизионных измерений толщин и оптических констант тонких пленок, простых тонкопленочных структур и объемных материалов всех типов:
полупроводников, диэлектриков и металлов.
Рекомендуемая сфера использования: технологический контроль, обучение и подготовка специалистов.
ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ
Физика и химия поверхности;
физика и химия тонких пленок;
физика полупроводников и диэлектриков;
микро- и наноэлектроника, оптоэлектроника;
оптика, опто- и лазерная техника, кристаллография;