вопрос

ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ

ИМ. А.В. РЖАНОВА

   ЭЛЛИПСОМЕТРЫ. ДИАГНОСТИКА И КОНТРОЛЬ ТОНКИХ ПЛЕНОК И СЛОЕВ

Домой     Эллипсометры     Контакты, поддержка, заказ     Работы и публикации     Эллипсометрия в технологиях, науке, производстве     Новости
"Эллипсометры. Диагностика и контроль тонких пленок и слоев"
   Домой

ЭЛЛИПСОМЕТРЫ
Прецизионная характеризация свойств тонких пленок и структур.

Мы разрабатываем и производим эллипсометры уже более 45 лет.
За это время было продано более 600 штук приборов.

« Каждый может стать экспертом в области диагностики тонких пленок, используя наши эллипсометры…»


Спектральный эллипсометрический комплекс «ЭЛЛИПС-1991»

Комплекс «ЭЛЛИПС-1991

Комплекс «ЭЛЛИПС-1991» предназначен для прецизионных измерений толщин и оптических констант тонких пленок и сложных многослойных тонкопленочных структур на основе полупроводников, диэлектриков, металлов, полимеров в широком спектральном диапазоне. Рекомендуемая сфера использования: научные исследования, тонкопленочные нанотехнологии, контроль высокотехнологичной продукции.
Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-777
Эллисометр предназначен для прецизионных измерений толщин и оптических констант тонких пленок, простых тонкопленочных структур и объемных материалов всех типов:
LEF-777
полупроводников, диэлектриков и металлов.
Рекомендуемая сфера использования: технологический контроль, обучение и подготовка специалистов.

ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ
  • Физика и химия поверхности;
  • физика и химия тонких пленок;
  • физика полупроводников и диэлектриков;
  • микро- и наноэлектроника, оптоэлектроника;
  • оптика, опто- и лазерная техника, кристаллография;
  • химия органических соединений, электрохимия;
  • биология и медицина .

© ИФП СО РАН, 2008-2018 гг. последнее обновление ноябрь 2018г. Aulchenko Nina